• 镀层无损分析仪 散热效果好 体积小巧 维护简单
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产品描述

光源X光 分析时间60s(可调) 重量45Kg 仪器尺寸550mm*416mm*333mm 可出售地全国

镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。


镀层测厚仪在使用前为减少测量的误差,可以进行简单的调零。用附送的铝或者铁调零板调零即可。调零方法:

1、将探头垂直按压在调零板中间的位置,保持探头的稳定。

2、按下按键,屏幕会提示压紧探头,再根据提示把探头提起15cm以上。

3、屏幕显示0.0则调零完毕。

4、完成后,可以把有标准值的测试片放在调零板上测量。测量的数值与标准测试片的误差范围之内,则说明仪器可以正常使用了。


镀层无损分析仪

镀层测厚仪有两种开机使用方法。一种是探头在测试过程中自动触发开机,并且直接显示出测量结果。这是因为采用了数字探头,非常的灵敏,会自动识别出测量基材,并且自动转换。

还有一种是按键开机。开机仪器会显示探头型号,两种不同量程的探头可供客户选择。


镀层无损分析仪

镀层测厚仪因为采用的是主机与探头分离式的设计,所以在购买时有两个不同量程的探头可以选择。F5N3的探头,大量程厚可以测到5mm,F3N3的探头,厚可以测到3mm。

在测量以mm为单位的镀层厚度时,大量程的镀层测厚仪LS223就可以满足您的测量需求。客户在选购时可以根据测量材料的厚度来选择相应的探头。镀层测厚仪90天无理由退换货,不满意都可以退。


镀层无损分析仪

我们服务宗旨是:以质量求生存、信誉是保证。诚信待人,灵活经营、讲究效率。愿与各界朋友精诚合作,携手共创美好的明天。


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