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镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有4互万控领笑程肉5-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。以下情况可以豁免X荧光光谱仪的辐射安全管理:豁免X荧光光谱仪的型号和规格符合国家相关规来自定，已经获得了豁免证书，并且在使用时严格按照溶象渐赶厂家提供的操作规程进行。豁免X360问答荧光光谱仪的辐射水平符合国家相关规定，经过检测证明其辐射剂量低于国家限值。豁免X荧光光谱仪的使用地。
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