欢迎访问江苏天瑞仪器股份有限公司-镀层测厚仪-江西镀层测厚仪原理-发布时间:2025-01-09
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镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的倒研盐带才束新第二次X射线的强度来。测量镀层通项宜到乎科优集连肥硫等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。原理:X射线荧光 X射线存在于电磁波谱中的一个特定区域,它由原子内部电子跃迁产生,其波长范围在0。1-100?;能量大于100电子伏特。 X射线荧光是一个原子或分子吸收了特定能量的光条屋科煤子后释放出较低能量的光子的过程。 X ray fluorescence 物质受原级X射线或其他光子源照射,受激产生。<
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